Ja, man sieht dann wie sie sich gegen Lebensende verhalten, also z.B. wie viele Rohlesefehler sie bekommen, wie viele ausrangierte Sektoren usw.
Man bekommt auch erst dann für die SSDs einen Eindruck wie z.B. die 637 Lesefehler der MX100 zu werten sind. Sind das viele? Ist das noch gar nichts, wie der Aktuelle Werte von immer noch 100 nahe legt? Oder ändert sich der Aktuelle Wert bei dem Attribut bei der SSD gar nicht, was bei einige Attributen ja auch der Fall ist. Außerdem seid ihr die ersten die eine Crucial seid der m4 so testen, ich konnte zumindest keinen Endurance Test einer m500, m550 oder anderen MX100 finden und da wäre es auch mal interessant zu wissen, wie sich denn am Ende das 16nm MLC von Micron gegen z.B. das 19nm TLC der Evo schlägt, schafft es wirklich fast 3 mal so viel Zyklen wie die spezifizierten Zyklen nahe legen oder doch nicht. Den Lesefehlern nach könnte man sogar fast vermuten, dass die Evo die MX100 sogar schlägt, die 840er bei techreport haben auch einige MLC SSDs überlebt, aber das waren vor allem solche mit dem Sandforce und der ist da im Verhalten immer etwas anders als andere Controller.
Immerhin spezifiziert Crucial schon immer die NANDs der Consumer SSDs mit 3000 P/E Zyklen, Samsung hat für die 21nm TLC der 840 (vor der Evo) 1000 Zyklen spezifiziert und gibt bei denen der Evo nun 1200 an (bzw. sind diese Basis für dem MWI wie man gesehen hat), schaffen diese also mehr als die 3000 bis 4000 die all den Endurance Test der 840 errreicht wurden? Oder wurde nur die Sicherheit etwas reduziert, indem man im Verhältnis zu den maximal erreichbaren Zyklen einen höheren Anteil als spezifizierte Zyklen angibt?
Zu guter letzt ist die maximal erreiche Anzahl der Zyklen auch ein guter Hinweis ob die Data Retention Time von 12 Monaten bis zum Erreichen der spezifizierten Zyklen wohl eingehalten wurde. Ihr testet es über einen Monat und länger macht es auch keinen Sinn, dann wären die SSDs schon vom Markt, wenn der Test zuende ist, aber da die DRT ja mit den verbrauchten Zyklen abnimmt, kann man aus der Gesamtzahl etwa ablesen, ob diese der Fall gewesen sein können. Machen die NANDs mindestens doppelt so viele P/E Zyklen wie spezifiziert, kann man das recht sicher unterstellen.
Wie ich
hier schon mal erwähnt hatte, gibt es
einen schönen Endurance Test der 840 Pro 128GB und man sieht dort in schönen Graphiken wie die Attribute sich über die Zeit verhalten haben:
Der Media Wear Indikatior war schnell am Ende, die SSD hat noch viel mehr geschafft, weshalb es mich auch nicht wundert, dass die 840 Pro bei techreport noch lebt, die 128GB hat ja schon über 3 PB geschafft, eine
850 Pro 128GB soll bei Samsung im Test angeblich über 8PB erreichen (da würde ich keinen Test bis zum Ende von euch erbitten, der dürfte wirklich lange dauern).
Bad Block gab es etwa ab der Hälfte der maximal erreichten Zyklen, aber kritisch wurde es erst, also die ECC Recovery Rate richtig hoch ging. In dem Zusammenhang wäre es schön zu wissen, ob die Controller die Fehler wirklich noch korrigieren können, das war bei der einen 830 256GB bei
xtremesystems.org nicht der Fall, die hatte schon deutlich vor dem Ausfall MD5 Fehler, wäre also schon nicht mehr nutzbar. Bisher haben ja alle SSDs alle MD5 Tests bestanden (außer denn wo am Anfang ein falscher Wert hinterlegt war, die zählen nicht).
