Ich habe schon vor einiger Zeit geschrieben, dass M.2 - Stecker ganz primitiver, mieser Kram sind. Ohne Grund gibt es nicht U.2. Bei QLC ist gerade noch die Haltbarkeit während der Garantie zu erwarten. Ohne Grund windet man sich nicht mit TBW heraus und verschweigt die Write-Amplifikation.
Okay auf so ein Mist habe ich ehrlich gesagt kein Bock.
Das ist schlicht nur dumm, denn ein Datenträger kann jederzeit ausfallen und vollkommen unabhängig davon ob dieser nun von sog. "guter" Qualität ist oder nicht so guter.
Ja, leider. Außer alle paar Jahre eine Workstation von speziellen Händlern für Leasingrückläufer oder alle 20 Jahre ein Auto, kaufe oder verkaufe ich kaum gebrauchte Sachen. Datenträger gar nicht. Mit Platten oder SSD hatte ich bisher keine Probleme. Es wäre mir unbehaglich, einen Datenträger aus der Hand zu geben.
Wobei die Frage ist, nach wie vielen TB sie dann kaputt geht, denn wenn das mehr als die TBW sind, wovon ich mal ausgehen würde, ist die Garantie beendet. Ich denke auch das es ein FW Bug ist und zwar dürfte da vermutlich eine zu kleine Anzahl an spezifizierten P/E Zyklen für die NANDs hinterlegt sein und deshalb zählt die verbleibende Lebensdauer so schnell runter. Damit wäre es nur ein Schönheitsfehler, denn den NANDs ist es natürlich egal wie der Zählerstand ist, der beeinflusst deren Lebensdauer in keiner Weise und die Samsung SSDs haben ja schon oft bewiesen dass sie auch weiterlaufen wenn der Zähler auf 0 gefallen ist und dann nicht, wie ich die von Intel, einfach vom Controller Read Only geschaltet werden.
www.samsung.com
Aus "Parameter 05: Percentage Used" und zieht diesen von "100" ab.
Wenn der Rechner (Host) Daten auf die SSD schreibt, dann werden diese in die NANDs geschrieben und wenn man sie löscht, werden sie wieder gelöscht und dann hat der Block in dem sie gestanden haben einen P/E Zyklus hinter sich. Manchmal müssen Daten auch intern umkopiert werden, weshalb es auch mehr NAND Writes als Host Writes gibt, dies nennt sich Write Amplification. Für die P/E Zyklen sind natürlich nur die NAND Writes relevant, für die TBW nur die Host Writes.
Auslesefehler halte ich für unwahrscheinlich, da die S.M.A.R.T. Werte bei NVMe (im Gegensatz zu SATA) SSDs standardisiert sind, Ich denke es ist ein FW Bug und wendet sind da zu wenig spezifizierten P/E Zyklen hinterlegt oder die Berechnung der verbrauchten Lebensdauer ist fehlerhaft, denn ich kann mir nicht vorstellen das die NAND von Samsung plötzlich nur noch so wenige P/E Zyklen aushalten können wie diese Angabe andeutet.
Das ist komisch, da diese bei NVMe SSDs wie gesagt eben standardisiert sind, nur die erweiterten Attribute sind herstellerspezifisch, die Standardwerte sollte jedes Tool für jede NVMe SSD auslesen können. Würde eher wieder auf eine FW Bug deuten.
Man kann Windows ja auch klonen oder ein Backupimage ziehen und muss es dann nicht immer neu installieren.
Mir ist bewusst, dass die Möglichkeit besteht. Ich persönlich traue den Tools zum Klonen aber nicht.
Das kann ich zwar nicht nachvollziehen, die die ich bisher genutzt habe haben alle ordentliche Arbeit geleistet. Man kann es ja ausprobieren und im Zweifel Windows immer noch neu installieren.
